Projet : Migration depuis C++ vers LabVIEW d’un logiciel de mesure de vieillissement de cartes électroniques et de composants.
Techniques appliquées :
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- Outils : LabVIEW
- Instrumentation : MegaOhmMètre Sefelec, cartes relais dans des châssis Pickering reliés par GPIB à un convertisseur USB pour relier à l’ordinateur de bureau ou portable
- Formation : Formateur des environnements de développement de National Instruments pour les formations suivantes :
- LabVIEW,
- LabWindows/CVI,
- TestStand,
- Measurement Studio .NET (premier formateur en France)